激光位移传感器可以测量物体的位移、厚度、振动、距离、直径等精密的几何变化。

松下激光位移传感器HL-C2系列测距产品，采用专用的CMOS系统芯片和仿真透镜技术达到了超高速10us的取样周期，高精度0.25um的几何测量。控制器具有双探头接口，多样化的通讯USB2.0，RS232，Ethernet等，模拟量端口，丰富的IO端口，另外还可以结合松下自带的监控软件实现方便、快捷的个性化设置。